光干涉透射法检测元件厚度差的原理：

在激光干涉仪进行透射测量时，激光光源发出的单色光,垂直向下经过被检元件上、下两表面被标准反射镜反射后会形成干涉条纹，每个点上所生的干涉条纹取决于该点上两相干的光的光程差。当光程差为nλ+0.5λ时，显示为暗条纹；当光程差为nλ+λ时，显示为亮条纹；

所以，当被检元件的两个面不完全平行，存在楔角时，沿楔角方向，元件的厚度逐渐增大，相应的光程差也逐渐变大，沿楔角方向就会产生间隔分布亮暗条纹。楔角越大，条纹越密集。

检测指标的简单说明：

PV值在数学上的定义是峰谷值( Peak to Valley),即最大值和最小值的差值。单位是λ(波长)。对应到干涉仪透射检测上，就是被检元件的厚度差。 

RMS值在数学上的定义是均方根值(root-mean-square)，单位是λ(波长),这是一个统计值，RMS的大小反映了这些数据值的离散程度。对应到干涉仪透射检测上，RMS值越小表明被检元件的厚度平滑性越好，高低起伏越少。

条纹根数是肉眼可见的被检元件厚度差的直观表现，与PV值成线性关系。条纹根数越少表明被检元件的厚度差越小。

序号	名称	GBM08A
1	测量原理	菲索干涉原理
2	激光器	半导体激光器 635nm 940nm
3	有效孔径	30mm   （允许同时管控8个孔）
4	标准镜面形精度	0.05λ
5	面形值重复精度	PV 0.06λ(标准片)
6	面形值量程	PV 0～3λ
7	测试时间	PV测试：1秒；条纹数测试：1秒内
8	夹具	有
9	软件	PVmeter
10	电源	220V 60W
11	通讯接口	USB
12	重量	15Kg
13	自动化接口	预留

 激光干涉仪GBM08A主要用于手机摄像头的干涉条纹测试，

可测试635nm和940nm双波段，

同时可以管控8个测试孔，测试速度快，数据准确度高，

而且机器配备防震动干扰设施，使得机器不受外界条件干扰，测试数据更加真实可靠，

是您测试手机摄像头的不二选择。